《扫描电镜测长问题的讨论》正式出版

    由周剑雄研究员等编写的四川电子科技大学正式出版的“扫描电镜测长问题的讨论”文集，将于2006年5月出版，欢迎选购。

该文集不仅是扫描电镜测长领域的具有开创性的研究成果方面的总结，也是扫描电镜、电子探针以及电子显微镜、各类光学显微镜、图象分析仪等显微实验室必备的分析测试手册和工具，对于提高实验室的分析水平以及实验室的认证和认可具有重要意义。姚骏恩院士正为本书的出版作序，中国科学院常务副院长（兼纳米标准化技术委员会主任）白春礼院士也将为本书题字。详细介绍见microbeam.com.cn(中华微束分析技术网)。

论文集将不仅是各有关实验室和实验人员的手册，而且，对于广大使用这类仪器的科学技术人员和研究生也有重要的参考价值。